詳細摘要: 產品概要:德國尤尼坦RV系列金剛石手動劃片機(Diamond Scriber),適用于陶瓷、玻璃、半導體晶圓等多種材料劃片。主要型號包括:精確手動晶圓劃片機RV...
產品型號:所在地:上海市更新時間:2023-07-03 在線留言
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上海載德半導體技術有限公司
詳細摘要: 產品概要:德國尤尼坦RV系列金剛石手動劃片機(Diamond Scriber),適用于陶瓷、玻璃、半導體晶圓等多種材料劃片。主要型號包括:精確手動晶圓劃片機RV...
產品型號:所在地:上海市更新時間:2023-07-03 在線留言詳細摘要: 產品概要:Wire Bonding是微電子及半導體器件的常用工藝,WB-200半自動焊線機可進行球焊、鍥焊、跳焊(Pump)等焊線工藝。
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產品型號:所在地:上海市更新時間:2023-07-03 在線留言詳細摘要: 產品概要:光刻機又名:掩模對準曝光機,曝光系統,光刻系統,紫外曝光機等。ECOPIA為的半導體設備供應商,多年來致力于掩模對準光刻機和勻膠機研發與生產,并且廣泛...
產品型號:所在地:上海市更新時間:2023-07-03 在線留言詳細摘要: 產品概要:開爾文探針(Kelvin Probe)是一種非接觸無損震蕩電容裝置,用于測量導體材料的功函數(Work Function)或半導體、絕緣表面的表面勢(...
產品型號:所在地:上海市更新時間:2023-07-03 在線留言詳細摘要: 產品概要:薄膜表面或界面的反射光會與從基底的反射光相干涉,干涉的發生與膜厚及折光系數等有關,因此可通過計算得到薄膜的厚度。光干涉法是一種無損、精確且快速的光學薄...
產品型號:所在地:上海市更新時間:2023-07-03 在線留言詳細摘要: 產品概要:德國WEP公司的CVP21電化學C-V剖面濃度測試儀可高效、準確的測量半導體材料(結構,層)中的摻雜濃度分布。選用合適的電解液與材料接觸、腐蝕,從而得...
產品型號:所在地:上海市更新時間:2023-07-03 在線留言詳細摘要: 產品概要:電子束蒸發系統是化合物半導體器件制作中的一種重要工藝技術。它是在高真空狀態下由電子束加熱坩堝中的金屬,使其熔融后蒸發到所需基片上形成金屬膜。可蒸發很多...
產品型號:所在地:上海市更新時間:2023-07-03 在線留言詳細摘要: 產品概要:美國埃米Angstrom Dep III原子層沉積系統,包括:傳統的熱原子層沉積系統(TALD)、等離子增強原子層沉積系統(PEALD)、粉末樣品的原...
產品型號:所在地:上海市更新時間:2023-07-03 在線留言詳細摘要: 產品概要:VS5電阻式熱蒸發鍍膜機是英國牛津真空公司生產,臺式設計、軟件自動操控、高性價比,非常適合實驗室科研使用。通過加熱蒸發某種物質使其沉積在固體表面,稱為...
產品型號:所在地:上海市更新時間:2023-07-03 在線留言詳細摘要: 產品概要:EPS-300是韓國Ecopia公司的一款手動探針臺。EPS-300尺寸緊湊,高性價比,適合放置在手套箱、屏蔽箱內使用,適合與太陽光模擬器或其他儀器聯...
產品型號:所在地:上海市更新時間:2023-07-03 在線留言詳細摘要: 產品概要:EPS-1000是韓國Ecopia的手動探針臺,有鎖針設計防止回針,臺面快速升降方便晶圓測試,適合科研及微電子器件的失效分析。
產品型號:所在地:上海市更新時間:2023-07-03 在線留言詳細摘要: 產品概要:MPS微探針臺(Micro Probe Station)尺寸小、重量輕,具備變溫測試及真空測試功能,適用于科研工作,也適用于與其他儀器聯用,是一款非常...
產品型號:所在地:上海市更新時間:2023-07-03 在線留言詳細摘要: 產品概要:ETCP-2000變溫真空探針臺,溫控范圍:80K~573K,樣品尺寸:4英寸,高性價比。
產品型號:所在地:上海市更新時間:2023-07-03 在線留言詳細摘要: 產品概要:霍爾效應測試儀主要用于測量半導體材料的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數、導電類型等重要參數,而這些參數是了解半導體材料電學特性必須預先掌控的,因此...
產品型號:所在地:上海市更新時間:2023-07-03 在線留言詳細摘要: 產品概要:霍爾效應測試儀主要用于測量半導體材料的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數、導電類型等重要參數,而這些參數是了解半導體材料電學特性必須預先掌控的,因此...
產品型號:所在地:上海市更新時間:2023-07-03 在線留言詳細摘要: 產品概要:光霍爾效應測試儀使用RGB光源,并可調節光強,用于測量光輻照情況下的半導體材料的電學性質。光霍爾效應測試儀可以測試并得到半導體材料的載流子濃度、遷移率...
產品型號:所在地:上海市更新時間:2023-07-03 在線留言詳細摘要: 產品概要:霍爾效應測試儀主要用于測量半導體材料的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數、導電類型等重要參數,而這些參數是了解半導體材料電學特性必須預先掌控的,因此...
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