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產(chǎn)品展示
LT-NIR分析儀
- 公司名稱：
- 更新時間：
- 所 在 地：
- 生產(chǎn)地址：
- 瀏覽次數(shù)：
- 北京金恒祥儀器有限公司
- 2022-12-02 09:20:14
- 北京市
- 美國LT
- 358
【簡單介紹】
【詳細(xì)說明】
產(chǎn)地：美國LT
簡介：
- 靈活性：提供不同配置滿足各種需求
- 快速瀏覽單色器：采集光譜掃描，速率6000波長/s
- 光纖：危險材料和地點的遠(yuǎn)程測量
- 自動波長參考：確保長時間波長校準(zhǔn)和準(zhǔn)確結(jié)果
- 穩(wěn)定源：長時間無人操作
- 電路：高S/N比，提高性能
- 設(shè)計緊湊：近距離操作，可用于流程環(huán)境
- 控制系統(tǒng)接口：Modbus, 4-20 mA和其他通訊協(xié)議
- 可選無線網(wǎng)絡(luò)
- 吹掃系統(tǒng)：X,Y或Z
- 熱控外殼：在極限環(huán)境下操作
- 校準(zhǔn)透明度：支持校準(zhǔn)
- 用戶可選配置：環(huán)境要求和Z佳樣品呈現(xiàn)
- 光學(xué)平臺耐沖擊和振動
- 應(yīng)用廣泛：150多個自動獨立自檢以確保操作正確
- 操作：24h連續(xù)操作無關(guān)機(jī)
- 光譜范圍：1200 – 2400nm（可提供其他范圍：400 – 2400nm）
- 掃描速度：2.5/s
- 測量模式：反射，透射，傳輸反射
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