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【簡單介紹】
【詳細說明】
不僅做動態老化,還具備DUT(受測器件:Device Under Test)的輸出信號監視功能。用這個功能對DUT的動作進行監視,防止篩選漏網,主要試驗對象為SDRAM,SRAM等內存類,CPU,ASIC,系統LSI等邏輯裝置,也對應各種MOS形的IC。
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半導體老化試驗室[BIC]
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