北京埃納科技有限公司
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測量原理測試時一束平面偏振光照在樣品表面上，由加強型且穩定的發光二極管LED發出的光束經過一個偏振片形成偏振光
測量原理
測試時一束平面偏振光照在樣品表面上，由加強型且穩定的發光二極管LED發出的光束經過一個偏振片形成偏振光。由于磁光克爾效應，反射光的偏振面會發生一定偏轉，偏轉大小取決于磁疇磁化方向，并且通過分析手段可以轉化為對比參數。低分辨率的顯微鏡的光束入射角固定為 30°。利用橫向和縱向的磁光克爾效應可以分析成像，放大倍數可以通過調節設備上的變焦器件控制。高分辨率顯微鏡中，通過選擇不同的照明LED燈（顯微鏡采光平面中特定區域成像），可以調節磁光克爾效應的敏感方向。
Evico磁光克爾顯微鏡和磁強計是一款的設備，可以用來觀測多種磁性材料的磁疇、磁化過程以及記錄磁化曲線，如塊體材料、帶狀材料、磁性薄膜、多層膜、圖樣薄膜、以及微米-納米線等。整個測試系統是半自動、零接觸、無損傷的。下圖為光路示意圖：
該系統提供兩套顯微鏡系統供選擇（Ⅰ）標準顯微鏡 （Ⅱ）高分辨-概覽復合顯微鏡。
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（Ⅰ）標準顯微鏡 （Ⅱ）復合顯微鏡
標準顯微鏡具配置有高質量的光學鏡頭，且有很高的機械穩定性，適用于100um-5mm范圍內的磁疇成像，分辨率達到光學極限200nm。
復合顯微鏡系統是更加靈敏的設備，組合了兩套顯微鏡：（Ⅰ）低分辨顯微鏡，適用于較大區域的磁疇總覽，30cmX30cm-8cmX8cm。（Ⅱ）高分辨率的顯微鏡的測試范圍和分辨率和標準型顯微鏡是一樣的，即直徑5mm的區域和200nm的分辨率。該系統同時配置了兩種顯微鏡，可以按照需要任意選擇。
? 任意一種顯微鏡系統都有圖像處理功能來使對比增強。配備的CMOS相機；成像時間分辨率可達5ns;可以施加任意方向的外加面內磁場；面外磁場可根據需要選配；。
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磁鐵及其它選件
應用示例
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