4200-SCS半導體特性分析儀 產品型號： 簡介：吉時利4200-SCS半導體特性分析儀帶模塊4200SMU×2，4205PG,4200-SCP2HR,4205-PCU,4200TM,8101-PIV,8101-4TRX
帶模塊4200SMU×2，4205PG,4200-SCP2HR,4205-PCU,4200TM,8101-PIV,8101-4TRX
概述編輯
容易使用的4200-SCS型半導體特性分析系統用于實驗室級的器件直流參數測試、實時繪圖與分析，具有高精度和亞f的分辨率。它提供了*的系統集成能力，包括完整的嵌入式PC機，Windows操作系統與大容量存儲器。其自動記錄、點擊式接口加速并簡化了獲取數據的過程，這樣用戶可以更快地開始分析測試結果。其它一些特征使得應力測量功能能夠滿足各種可靠性測試的需求。
2特征編輯
* 直觀的、點擊式Windows操作環境
* 的遠端前置放大器，將SMU的分辨率擴展至 0.1fA
* 用于**半導體測試的新型脈沖與脈沖式I-V功能
* 集成了示波與脈沖測量功能的新型示波卡
* 內置PC提供快速的測試設置、強大的數據分析、制圖與打印、以及測試結果的大容量存儲
* 的瀏覽器風格的軟件界面，根據器件的類型來安排測試，可以執行多項測試并提供測試序列與循環控制功能
* 內置了Stress/Measure，循環和數據分析功能，通過鼠標點擊方式就可進行可靠性測試，包括5個JEDEC規范的樣品測試
* 支持 Keithley590 型與 Agilent 4284/4294型C-V儀、Keithley開關矩陣與Agilent 81110脈沖發生器等多種外圍設備
* 硬件由 Keithley交互式測試環境（KITE）來控制，用戶測試模塊功能，可用于外接儀表控制與測試平臺集成，是KITE功能的擴充
* 包括驅動軟件，支持CascadeMicrotech Summit 12K系列、Karl Suss PA-200和PA-300，Micromanipulator 的8860自動和手動探針臺
* 支持的半導體模型參數提取，包括IC-CAP和Cadence BSIMProPlus/Virtuoso
3配件應用編輯
4210-MMPC-C，4210-MMPC-C型高**三同軸線纜工具箱（用于Cascade Microtech Probers）
4210-MMPC-S，4210-MMPC-C型高性能三同軸電纜套件（配合級聯微技術探頭使用）
LR8028，LR:8028型成分測試夾具-優化設備測試到200V/1A
4200-SMU，4200-SMU型4200-SCS中等功率源-測量單元（100mA~100fA，200V~1uV，2W）
4210-CVU，4210-CVU型1kHz~10MHz電容電壓測量單元
4210-SMU，4210-SMU型4200-SCS高功率源-測量單元（1A~100fA，200V~1uV，20W）
4200-PA，4200-PA型4200-SMU和4210-SMU遠程前置放大器選件
4205-PG2型雙通道脈沖發生器
4200-SCP2型雙通道示波器卡
4200-SCP2HR型200MS雙通道示波器卡
4儀器應用編輯
* 4225-PMU超快I-V模塊
* 4220-PGU脈沖發生器單元（僅電壓源）
* 4225-RPM遠程放大器/開關
* 4200-SMU中等功率源測量單元
* 用于4200-SCS的4210-SMU高功率源測量單元
* 用于4200-SMU和4210-SMU的4200-PA遠程前置放大器選件
* 4210-CVU 1kHz - 10MHz電容電壓測量單元
* 4200-SCP2雙通道示波器卡
* 4200-SCP2HR 200MS雙通道示波器卡
5超快I-V應用套件編輯
* 4225-PMU超快I-V模塊
