ZEM Ultra場發(fā)射臺式掃描電鏡

產(chǎn)品介紹

ZEM Ultra 臺式掃描電鏡采用肖特基場發(fā)射電子源，三級獨立真空設計，優(yōu)于2.5nm的分辨率滿足多數(shù)樣品微納結構表征需求。標配大束流及大樣品倉，支持原位功能樣品臺及EDS/EBSD拓展。

產(chǎn)品特色

▲ 全自動操作

▲ 肖特基場發(fā)射電子槍

▲ 高穩(wěn)定性

▲ 高分辨觀測

▲ 豐富拓展

▲ 易用性強

產(chǎn)品參數(shù)

圖像像素尺寸（默認）：512*512（視頻）2048*2048（拍照）

燈絲類型：場發(fā)射燈絲

電動樣品臺：XY二軸/XYZ三軸/XYT三軸/五軸

探測器類型：BSE、SE、EDS

減速模式：選配（0-10kv樣品臺電壓減速）

應用案例

金顆粒150000X （左）碳納米管 20000X（右）

磷酸鐵鋰 30000X（左）二氧化硅 100000X（右）