詳細摘要： 簡要描述：SE-VE 是一款、快速測量光譜橢偏儀，緊湊集成設(shè)計，使用簡便，可一鍵快速測量表征各式光學薄膜膜厚以及光學常數(shù)等信息。
產(chǎn)品型號：SE-VE所在地：杭州市更新時間：2023-08-24 在線留言印前設(shè)備 印刷機械 印后設(shè)備 裝訂設(shè)備 廣告設(shè)備 辦公設(shè)備 印刷機械配件 其它印刷相關(guān)器材 其它印刷設(shè)備
杭州華盼科技有限公司
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詳細摘要： 簡要描述：SE-VE 是一款、快速測量光譜橢偏儀，緊湊集成設(shè)計，使用簡便，可一鍵快速測量表征各式光學薄膜膜厚以及光學常數(shù)等信息。
產(chǎn)品型號：SE-VE所在地：杭州市更新時間：2023-08-24 在線留言
詳細摘要： 簡要描述：SE-Mapping光譜橢偏儀是一款可定制化Mapping繪制化測量光譜橢偏儀。
產(chǎn)品型號：SE-Mapping所在地：杭州市更新時間：2023-08-23 在線留言
詳細摘要： 簡要描述：SE-L 是一款全自動高精度光譜橢偏儀，集眾多科技技術(shù)，采用行業(yè)前沿創(chuàng)新技術(shù)，配置全自動測量模塊。
產(chǎn)品型號：SE-L所在地：杭州市更新時間：2023-08-23 在線留言
詳細摘要： 簡要描述：SE-VM 是一款高精度快速測量光譜橢偏儀。可通過橢偏參數(shù)、 透射/反射率等參數(shù)的測量，快速實現(xiàn)光學參數(shù)薄膜和納米結(jié)構(gòu)的表征分析，適用于薄膜材料的快速...
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