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深圳市賽麥吉圖像技術有限公司

經營模式：其他

商鋪產品：298條

所在地區：廣東深圳市

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棋盤測試圖卡幾何畸變卡

詳細摘要：水平方向的間隔315KHz（約2/25h），垂直方向的間隔900Hz的（約1/14h）。
產品型號：所在地：深圳市更新時間：2022-09-18 在線留言
高精度棋盤測試圖卡幾何畸變卡

詳細摘要：這張測試圖在垂直方向上有7個25mm的類似棋盤型高精度LVT模塊。這張測試圖卡尺寸為8x10。?
產品型號：所在地：深圳市更新時間：2022-09-18 在線留言
畸變測試點圖幾何點畸變卡

詳細摘要：中型圖卡尺寸為24×36,XL圖卡尺寸為44×66。對于中型圖點的直徑尺寸為0.498（高有15個點）和0.299直徑長的小點（高25個點）兩種。
產品型號：所在地：深圳市更新時間：2022-09-18 在線留言
GRID/重合測試圖相機畸變卡

詳細摘要：測試圖在白色背景上有水平23個和垂直53個直線柵格。3個網格線從中間劃分外圍的3行網格。
產品型號：所在地：深圳市更新時間：2022-09-18 在線留言
HDTV GRID/重合測試圖高清電視畸變卡

詳細摘要：該測試圖由分布在白色背景上的水平方向23個和垂直方向43個柵線形成的24x42個方格結構組成。
產品型號：所在地：深圳市更新時間：2022-09-18 在線留言
高清幾何畸變測試卡畸變卡

詳細摘要：大眾眼球：大約1/18h 1/36h
產品型號：所在地：深圳市更新時間：2022-09-18 在線留言
失真和色差測試卡十字幾何畸變卡

詳細摘要： TE251設計用于測量數碼相機的失真。它包含在白色背景的黑十字架。
產品型號：所在地：深圳市更新時間：2022-09-18 在線留言
不連續網格失真畸變卡

詳細摘要： TE248設計用于測量數碼相機的失真。它包含在白色背景上的黑線細小網格。
產品型號：所在地：深圳市更新時間：2022-09-18 在線留言
點圖卡畸變測試圖卡

詳細摘要：其中一個有31行的點和其他15行的點。它們可用于確定失真和色差。
產品型號：所在地：深圳市更新時間：2022-09-18 在線留言
重合測試圖畸變測試卡

詳細摘要：該測試圖設計用于確定在主R，G，B型號之間存在相對水平和垂直的偏移量。
產品型號：所在地：深圳市更新時間：2022-09-17 在線留言
傾斜邊緣傾斜棋盤卡

詳細摘要： TE261傾斜邊緣目標在背景中有一個傾斜的棋盤，5個低對比度傾斜邊緣和前面的周圍灰色補丁。
產品型號：所在地：深圳市更新時間：2022-09-17 在線留言
棋盤測試圖鏡頭多功能棋盤測試卡

詳細摘要： TE102測試圖被設計為檢查幾何和分辨率。
產品型號：所在地：深圳市更新時間：2022-09-17 在線留言
棋盤測試卡分辨率畸變測試卡

詳細摘要： TE102測試圖被設計為檢查幾何和分辨率。
產品型號：所在地：深圳市更新時間：2022-09-17 在線留言
幾何（BALL）測試圖

詳細摘要： T06測試卡被設計用來檢查幾何和分辨率。
產品型號：所在地：深圳市更新時間：2022-09-17 在線留言
棋盤測試圖幾何分辨率測試卡

詳細摘要： T06測試卡被設計用來檢查幾何和分辨率。
產品型號：所在地：深圳市更新時間：2022-09-17 在線留言
幾何（BALL）測試卡畸變卡

詳細摘要：測試圖設計用于測量的攝像機和監視器的幾何形狀。
產品型號：所在地：深圳市更新時間：2022-09-17 在線留言
攝像機幾何校準測試卡畸變卡

詳細摘要：它由中心一個大圓和周圍的八個位圈。且在9個位置有臥式/立式分辨率楔子。
產品型號：所在地：深圳市更新時間：2022-09-17 在線留言
CCD重合測試卡

詳細摘要： CCD傳感器建成垂直行像素。這些垂直行將干擾通用型定位圖的垂直線。
產品型號：所在地：深圳市更新時間：2022-09-17 在線留言
混疊測試圖走樣畸變測試卡

詳細摘要： TE173專門用于測量走樣?；殳B效應是兩個位圖的波紋扭曲造成的干擾。
產品型號：所在地：深圳市更新時間：2022-09-17 在線留言
棋盤卡ISO-16505-CB

詳細摘要：此高對比度“棋盤"（棋盤格）目標用于根據標準概述的規格測量失真和放大率。
產品型號：所在地：深圳市更新時間：2022-09-16 在線留言