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SJ207數顯高度計功能

SJ207數顯高度計可廣泛適用于產品計量、多點檢測、測量設備監測和位置測量等眾多領域，對長度、間距、厚度、高度或直線位移進行快速、準確的測量。

結構原理

包括高精度光柵裝置、密珠導軌的測量桿裝置、高性能的高速采樣等。

采用高精度光柵，即玻璃基體的增量式光柵尺作為測量基準，所以支持大量程的測量。測量基準對震動和沖擊不敏感，并具有確定的穩定特性。

增量光柵尺的掃描方法為光電掃描，因此無機械接觸也無磨損。電子設備對輸出信號進行細分至納米級的極小測量步距，從而確保一個信號周期內微小位置誤差。

性能特點

u 測量精度高（高精度進口光柵、高精度導軌）；

u 可靠性好（經過10萬次重復性實驗）；

u 檢測速度快：快速檢測、示值穩定；

u 校準方便；

u 采用密珠導軌的測量桿能夠承受很高的徑向力且運動摩擦力極?。?/p>

u 應用廣泛，自動檢測設備、手動測量或定位設備-無論是長度、間距、高度、厚度或直線位移都可以快速、準確和可靠的測量。

技術參數