2025-01-01 06:44:0983
| 參考價: | 面議 |
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在線詢價圖片描述：
簡要描述：薄膜反射和透射的在線監測系統RTinline薄膜測量系統是為沉積過程的在線質量控制而設計的。該方法基于SENTECH的薄膜厚度探針FTPadv，用于測量反射率和薄膜厚度。它分別工作在420～1050nm、2000～2500nm的光
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