2025-01-01 05:25:1675
| 參考價: | 面議 |
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在線詢價圖片描述：
簡要描述：綜合薄膜測量軟件集成的色散模型用于描述所有常用材料的光學特性。利用快速擬合算法，通過改變模型參數將計算得到的光譜調整到實測光譜。
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