2024-09-10 03:58:01122
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- 產品型號:SDC-600
- 廠商性質:其他
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- 所在地區:成都市
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在線詢價圖片描述：
半導體晶圓接觸角測量儀Wafer水滴測試晶圓表面分析測量系統、晶圓表面張力分析系統適用于半導體晶圓（Wafer）工藝的質量控制。提供晶圓（Wafers）表面的快速并準確的接觸角/表面能分析，從而評估粘性，潔凈度及鍍膜
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