艾博納原子力顯微鏡（AFM）維持納米研究的前沿技術，具有原子級超高分辨率，高水平的性能。可在大氣和液體環(huán)境中對樣品進行探測或進行納米操控。其測試功能強大、操作簡單，除配備接觸模式、非接觸模式、輕敲模式，也可選配用戶需要的模式。我們的系統(tǒng)經過專業(yè)的設計，可對測試結果進行各類數(shù)據分析，更加方便、快捷完成測試需求。
艾博納原子力顯微鏡（AFM）配備了高精度的電動X、Y、Z軸平移臺，具備滾珠絲杠和交叉滾柱導軌，確保了精確的樣品操作和定位。此外，該設備具有研究級的頂視視頻光學顯微鏡，提供清晰的樣品觀察。它還包括多個掃描儀，以優(yōu)化掃描條件，支持系統(tǒng)的定制和擴展。設備的模塊化設計允許用戶根據需求添加額外的功能和模式，如圖像記錄器、光刻和液體掃描。簡易的探頭更換機制和激光桿的廣泛調節(jié)范圍提供了額外的操作便利。
