儀器簡介：
- 高精度和準確度的折光指數儀
- 使用雙快速帕爾帖（Peltier）半導體控溫技術的折光儀
- 的全光反射測量原理，不受樣品顏色和濁度的干擾，準確穩定測定深色樣品折光率
- LED光源，平均壽命100000小時。不需要任何耗材，免維護。
技術參數：
- 折光指數范圍:1.30 - 1.72 nD
- 精確度:1 x 10-6 nD
- 準確度:4 x 10-5 nD
- 波長:運用干涉濾片精確的調整為 589.3 nm±0.1 nm(鈉D)
- 內置Peltier 半導體恒溫控制器，標準控溫范圍10-70℃，可選控溫范圍10-110℃，精度0.01 °C，控溫準確度(±0.03 °C), 溫度穩定性0.002℃。
- LED光源，平均壽命≥100000小時。
- 的全光反射測量原理，不受樣品顏色和濁度的干擾，準確穩定測定深色樣品折光率。
- 使用雙快速帕爾帖（Peltier）半導體控溫技術的折光儀。其中一個帕爾帖（Peltier）恒溫控制樣品的溫度，另一個帕爾帖（Peltier）恒溫控制光電測量系統溫度恒定，使其不受測量與周圍環境溫度的影響。
- 棱鏡材質：YAG （用于激光發生器的釔鋁石榴石），接近鉆石硬度。
- 根據不同應用，配置大量樣品的流動進樣裝置（懸浮液樣品專用組件）及固體樣品專用組件.
- 防水型不銹鋼外殼，耐大多數化學品腐蝕。
- 多種操作模式：PC 電腦操作或與Anton Paar 數字式密度儀聯用操作均可。
- 強大的延伸測量，如Brix，Glucose， Fructose，Invert Sugar，Salinity等21種測量方法。
- 免維護
主要特點：
- 高精度和準確度的折光指數儀
- 使用雙快速帕爾帖（Peltier）半導體控溫技術的折光儀
- 的全光反射測量原理，不受樣品顏色和濁度的干擾，準確穩定測定深色樣品折光率
- LED光源，平均壽命100000小時。不需要任何耗材，免維護。
