ZEM18臺式掃描電鏡信號采集帶寬高達10M，掃描速度快，視頻模式下實時觀察樣品，無重影、拖影，不錯過每一個細節。兼容澤攸科技多種原位功能樣品臺（拉伸臺、加熱臺、TEC冷臺等原位測試系統）
• 產品特色
△ 操作簡便： 僅需鼠標即可完成所有操作，一體式聚光鏡，無需手動調節光闌
△ 成像快速： 抽真空時間小于90s，
△ 顯示流暢： 信號采集帶寬高達10M，掃描速度快，視頻模式下實時觀察樣品，無重影、拖影，不錯過每一個細節
△ 信號多樣： 二次電子探測器、四分割背散射電子探測器、集成式能譜儀等多種探測器。（SE+BSE模式：同時采集，任意疊加）
△ 性能突出：加速電壓連續可調，選配低真空模式，適應多種類型樣品和原位測試功能
△ 體積小巧：無需特裝設備間和額外減震臺，常規市電即插即用
△ 原位拓展：豐富的原位拓展功能，可兼容自研原位電鏡附件（拉伸樣品臺、加熱臺、TEC冷臺等）
△ 售后無憂： 國內自主研發，提供完備的高性價比售后服務。北京、上海、安徽、東莞等多個辦事處提供樣機demo服務。
安徽澤攸科技有限公司擁有一支精通機械、光學、超高真空、電子技術、微納加工技術、軟件開發技術的技術團隊，致力于突破電子顯微鏡制造這一"卡脖子"技術難題，自主研發ZEM18臺式掃描電鏡，產品已陸續銷售并在眾多高校科研實驗室及企業研發檢測中心使用。澤攸科技將持續不斷地優化產品型號及配置，期待與您的合作。
