J200 復合型激光進樣-光譜元素分析系統

J200 Tandem LA - LIBS-ICP-MS

一、技術背景
產品來自于美國ASI公司，是一家專門研究激光剝蝕及光譜分析技術的高科技公司，研發人員均為美國勞倫斯伯克利國家實驗室的科研人員。公司總裁Russo博士為美國勞倫斯伯克利國家實驗室的科學家，從事激光剝蝕及激光光譜元素分析技術30多年，創造性的將激光剝蝕技術（LA技術）及激光誘導擊穿光譜技術（LIBS技術）相融合，研發了J200系列激光剝蝕進樣及光譜分析系統。

二、系統功能及用途
同J200納秒激光剝蝕進樣復合系統。

三、工作原理
同J200納秒激光剝蝕進樣復合系統。

四、系統組成
同J200納秒激光剝蝕進樣復合系統。

五、應用領域
同J200納秒激光剝蝕進樣復合系統。

六、硬件特點
高重復率且高度穩定Yb-based的飛秒級激光，使用壽命長，不會對光學器件造成損壞。同時，J200飛秒激光剝蝕進樣復合系統對于外界環境和溫度沒有特殊的要求。
其它特點同J200納秒激光剝蝕進樣復合系統。

七、軟件特點
同J200納秒激光剝蝕進樣復合系統。

八、技術優勢
1、基本無熱效應，無元素分餾現象發生。
飛秒級的脈沖寬度使樣品直接被汽化，然后去激態形成類似于晶體的納米級均勻顆粒而被載氣輸送進ICP-MS中，沒有樣品熔化的過程，所以基本無熱效應，無元素分餾現象發生。

飛秒與納秒熱效應影響示意圖
2、LIBS模塊可以檢測到化學周期表上的幾乎全部元素，包括質譜儀所不能檢測到的N、H、O、Li、Be、Na等元素。
在飛秒LA剝蝕樣品時，汽化后的樣品去激態過程中會形成等離子光譜，而這些光譜包含了所測樣品區域的所有元素，相當于所測樣品區域的“化學指紋”。然后，LIBS模塊就會通過光譜收集鏡頭對形成的光譜曲線進行收集，經過檢測器和化學分析軟件就可以檢測出H、O、N、Li、Be、Na等化學周期表元素的分布和含量。
J200激光剝蝕進樣復合系統還可根據用戶的需求定制高解析度的光譜儀，用于鈧、釔和鑭系元素等17種化學元素元素的檢測。
3、真實的TruLIBS譜線庫比NIST譜線庫更準確，分析也更清晰，同時支持自測譜線上傳。
TruLIBS譜線庫是勞倫斯伯克利實驗室在30多年激光譜線研究的基礎上所開發出的真實等離子體譜線庫，每條譜線都是經過真實實驗所得到的，元素識別、標記比NIST譜線庫更快速、更準確，而且還可通過軟件的濾波技術及SMARTLIBS 算法，計算、比較，剔除減少不相關和不可能的元素，減少錯誤元素的干擾。同時，用戶還可將自己實驗得到的譜線上傳至譜線庫作為以后研究的對比譜線。

上圖為NIST譜線庫分析NIST 629合金所識別出的譜線
下圖為TruLIBS譜線庫分析NIST 629合金所識別出的譜線

4、來自于勞倫斯伯克利實驗室的強大技術支持，幫助用戶進行精確的研究。
ASI公司的技術工程師全部來自于勞倫斯伯克利實驗室，RUSSO博士更是30多年來一直從事激光剝蝕技術及其應用的工作，技術基礎雄厚。我們可以根據不同的實驗需要幫助用戶同時調整ICP-MS和LA的參數，地控制好氣流，從而幫助實驗者得到精確的結果。
5、強大的軟件與ICP-MS儀器協同操作
J200 Femto LA系統軟件 功能直觀、帶圖形界面，易瀏覽不同的樣品區域，設立靈活的采樣方式。 采用雙向通信控制，協同操作ICP-MS儀器達到了的水平。軟件讓用戶通過基本單元“處方”來制定各個硬件工作的時間序列命令集，并通過串聯多個“處方”，讓系統自動完成各個測量工作。
6、“處方”功能讓系統自動運行
用戶可將多個硬件部件運行命令集合，并按時間順序排列，形成 “處方”。制定完成的處方，以后也可以調用。多個處方可編制成組，自動順序執行，使測量工作高度自動化。同時，還可以簡單采用“recall”命令調用“處方”，重復實驗，也可復制部分“處方”，結合新的命令，完成新的采樣過程。

九、主要參數
激光： 波長分別為343nm、515nm、1030nm三種，高度穩定的Yb-based飛秒激光器
激光脈沖寬度：≤500fsec
激光光斑：3μm—100μm，可自動連續調節
LIBS檢測器：掃描型Czerny Turner光譜儀/ICCD檢測器、Echelle光譜儀/ICCD檢測器、4通道/6通道CCD檢測器三種可選

十、產地：美國